Rückstreuelektronen-Mikroskope

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Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Phenom Pharos G2

Vergrößerung: 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 2, 10, 3 nm

... Tisch-Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskanone für hochwertige Aufnahmen in verschiedenen Disziplinen. Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskanone Das Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM bringt das Feldemissions-SEM ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
Phenom XL G2

Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 µm - 10 µm

... eine lange Lebensdauer bei geringerem Wartungsaufwand. Der kleine Formfaktor benötigt wenig Platz im Labor, so dass Sie das Mikroskop genau dort platzieren können, wo Sie es benötigen. Phenom XL G2 Argon-kompatibles ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
Phenom Pro G6

Vergrößerung: 160 unit - 350.000 unit
Räumliche Auflösung: 8, 6 nm

... Desktop SEM für robuste und mühelose SEM-Analysen, die Ihre Forschungsmöglichkeiten erweitern. Phenom Pro Desktop SEM Die sechste Generation des Thermo Scientific Phenom Pro G6 Desktop SEM schließt die Lücke zwischen der Lichtmikroskopie ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
Phenom ProX G6

Vergrößerung: 160 unit - 350.000 unit
Räumliche Auflösung: 8, 6 nm

... Desktop-SEM mit EDS-Funktion für robuste, mühelose und vielseitige Elementar- und SEM-Analysen. Phenom Desktop SEM mit energiedispersiver Röntgendiffraktometrie Die sechste Generation des Thermo Scientific Phenom ProX G6 Desktop SEM ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
Phenom Pure G6

Vergrößerung: 160 unit - 175.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 15 nm

... Desktop SEM ist wirtschaftlich und einfach zu bedienen und verfügt über zuverlässige Automatisierungsfunktionen. Das Thermo Scientific Phenom Pure Desktop-Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein ideales Werkzeug für den Übergang von ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Mikroskop für Batterie
Mikroskop für Batterie
Phenom ParticleX

Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 10 nm

... Desktop-Rasterelektronenmikroskop für die Batterieproduktion und -forschung. Analyse fortschrittlicher Batteriematerialien Phenom Desktop SEM für die Analyse von Batteriematerialien In der Batterieproduktion und -forschung wird die ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
Phenom ParticleX TC

Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 10 nm

... Analyse der Bauteilsauberkeit mit einem Mehrzweck-Desktop-SEM. Desktop-SEM für die Analyse der Bauteilsauberkeit Das Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM ist ein vielseitig einsetzbares Desktop-SEM, das technische Sauberkeit ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
Axia ChemiSEM

Räumliche Auflösung: 3, 8, 7 nm
Gewicht: 10 kg

... einzugehen. Unser Ziel war es, die Mikroskopie zu einer einfachen und angenehmen Erfahrung zu machen, bei der man nicht mit dem Mikroskop kämpfen muss, um qualitativ hochwertige Daten zu erhalten. Das Ergebnis ist das ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Raster-Transmissions-Elektron-Mikroskop
Raster-Transmissions-Elektron-Mikroskop
SU9000II

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie trägt zum ultimativen FE-SEM mit überragender Strahlhelligkeit und -stabilität ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SU8700

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm

... Das SU8700 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SU8600

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm

... Das SU8600 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Kaltfeld-Emissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre CFE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, Automatisierung, ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SU7000

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm

... Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SU5000

Räumliche Auflösung: 1,2 nm

... Mit EM Wizard werden Anfänger über Nacht zu Experten. - Die automatische Achsenjustierung (Autokalibrierung) versetzt das Mikroskop bei Bedarf in den "besten Zustand". - Eine robuste "ausziehbare" Probenkammer nimmt große ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
SU series

Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm

... Leistung und Power auf einer flexiblen Plattform Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/SU3900 von Hitachi High-Tech bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Der Bediener kann viele Vorgänge automatisieren und ihre hohe Leistung ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Rasterelektronenmikroskop
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FlexSEM 1000 II

Vergrößerung: 6 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 5, 15 nm

... und kompaktes Design aus, so dass es in begrenzten Büro-, Labor- oder sogar mobilen Räumen installiert werden kann. Dieses Mikroskop ist sowohl für Anfänger als auch für erfahrene Mikroskopiker konzipiert und eignet sich ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
TM4000 series

Vergrößerung: 10 unit - 25.000.054 unit
Gewicht: 54 kg
Länge: 614, 617 mm

... Die TM4000-Serie zeichnet sich durch Innovationen und Spitzentechnologien aus, die die Möglichkeiten eines Tischmikroskops neu definieren. Diese neue Generation der seit langem bewährten Hitachi-Tischmikroskope (TM) vereint Benutzerfreundlichkeit, ...

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Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SEM5000Pro

Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8 nm - 1.200 nm
Gewicht: 950 kg

... CIQTEK SEM5000Pro ist ein hochauflösendes, funktionsreiches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM, FEG SEM). Erweiterte Spalte Design, Hochspannungs-Tunnel-Technologie (SuperTunnel), niedrige Aberration nicht Leckage magnetische ...

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CIQTEK Co., Ltd.
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
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SEM4000Pro

Vergrößerung: 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9 nm - 2,5 nm

CIQTEK SEM4000 ist ein analytisches thermisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, das mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit ausgestattet ist. Das dreistufige magnetische Linsendesign ...

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Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
SEM2100

Vergrößerung: 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 4,5, 3,9 nm

... Das SEM2100 ist ein benutzerfreundliches und leicht zugängliches Wolfram-Filament-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das auch für Einsteiger geeignet ist. Es zeichnet sich durch einen vereinfachten Bedienprozess aus und hält sich bei der ...

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Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
SEM5000X

Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6 nm - 1 nm
Gewicht: 400 kg

CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit einer bahnbrechenden Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV. Dank des verbesserten Säulenentwicklungsprozesses, der „SuperTunnel“-Technologie ...

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CIQTEK Co., Ltd.
Rasterelektronenmikroskop mit fokussierter Ionensonde
Rasterelektronenmikroskop mit fokussierter Ionensonde
DB550

Räumliche Auflösung: 3, 0,9, 1,6 nm

CIQTEK DB500 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit einer fokussierten Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung, das mit „SuperTunnel“-Technologie, geringer Aberration und magnetfreiem Objektivdesign, niedriger ...

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Wolframwendel-Mikroskop
Wolframwendel-Mikroskop
SEM 3300

Vergrößerung: 1 unit - 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 2,5 nm - 5 nm
Länge: 926 mm

... Das SEM3300 ist ein Rasterelektronenmikroskop der neuen Generation mit einer Auflösung von mehr als 2,5 nm bei 20 kV. Die spezielle Elektronenoptik durchbricht die Auflösungsgrenze des Wolframfilaments und erreicht eine Auflösung von ...

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Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
HEM6000

Vergrößerung: 66 unit - 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 1,3 nm
Länge: 1.716 mm

... Hochgeschwindigkeits-Rasterelektronenmikroskop für die maßstabsübergreifende Abbildung großvolumiger Proben Das CIQTEK HEM6000 verfügt über Technologien wie die lichtstarke Großstrahl-Elektronenkanone, das Hochgeschwindigkeits-Elektronenstrahl-Ablenksystem, ...

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Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SEM4000X

Vergrößerung: 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 1,2, 1,9 nm

... Ultra-Strahl-Verzögerungsmodus aufgerüstet werden, um die Auflösung bei niedriger Spannung noch weiter zu verbessern. Das Mikroskop nutzt die Multi-Detektor-Technologie mit einem In-Column-Elektronendetektor (UD), der ...

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