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Profilometer für Halbleiter
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Komaktes optisches Profilometer für Mikrostrukturen und Rauheit TopMap Micro.View® ist das Kompaktsystem der TopMap Familie von optischen Profilometern und ermöglicht die wiederholgenaue und hochauflösende Charakterisierung ...
MODULARE OPTISCHE 3D-MESSSTATION FÜR RAUHEIT UND MIKROSTRUKTUREN TopMap Micro.View+ ist die neue Generation optischer 3D-Profilometer von Polytec. Als modulare 3D-Messstation bietet sie Konfigurationsmöglichkeiten ...
... Es wird für die Messung und Analyse der Oberflächenrauheit und des Profils von Präzisionskomponenten aus den Bereichen Halbleiter, 3C-Elektronik, Ultrapräzisionsbearbeitung, optische Bearbeitung, Mikro-Nanomaterialien ...
Chotest Technology Inc.
... Es wird für die Messung und Analyse der Oberflächenrauheit und des Profils von Präzisionskomponenten aus den Bereichen Halbleiter, 3C-Elektronik, Ultrapräzisionsbearbeitung, optische Bearbeitung, Mikro-Nanomaterialien ...
Chotest Technology Inc.
... Anwendungen Es wird für die Messung und Analyse der Oberflächenrauheit und des Profils von Präzisionskomponenten aus den Bereichen Halbleiter, 3C-Elektronik, Ultrapräzisionsbearbeitung, optische Bearbeitung, Mikro-Nanomaterialien ...
Chotest Technology Inc.
... Die SJ5720-OPT-Serie ist in der Lage, sowohl die Oberflächenrauheit als auch das Profil nach einmaligem Scannen zu messen. Darüber hinaus gibt es ein spezielles Softwaremodul für die Messung und Analyse von großen asphärischen Oberflächen, ...
Chotest Technology Inc.
... Mikrofertigung - Mikropaläontologie - Optik - Werkzeugtechnik - Halbleitertechnik - Uhrenbau Konfokal Konfokal-Profilometer erlauben die Vermessung unterschiedlichster Oberflächen, von glatt bis sehr rau. Die ...
... arbeitender Taststift-Profiler. Das HRP bietet produktionsbewährte Leistung mit automatisierter Waferhandhabung für die Halbleiter-, Verbindungshalbleiter-, Hochleistungs-LED-, Datenspeicher- und verwandte Industrien. ...
KLA Corporation
... Der berührungslose Profiler Zeta™-388 bietet 3D-Metrologie- und Bildgebungsfunktionen, kombiniert mit einem integrierten Isolationstisch und einem Kassette-zu-Kassette-Wafer-Handling-System für vollautomatische Messungen. ...
KLA Corporation
KLA Corporation
... Dies liefert Inline-Höhenmessungen für Inspektion, Erkennung, Identifikation und Führung in den Marktsegmenten Elektronik, Halbleiter, Automotive und Fabrikautomation. Scan-Geschwindigkeiten von bis zu 45.000 Profilen/Sek Alle ...
Dalsa
... IP67 sind ideal für Inline-Mess-, Inspektions-, Identifikations- und Führungsanwendungen in der Automobil-, Elektronik-, Halbleiter- und Fabrikautomation. Die Z-Trak-Serie liefert zuverlässige und wiederholbare Ergebnisse ...
Dalsa
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