Positioniersysteme für Mikroskopie

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 2,5 µm
Ladung: 5 kg - 20 kg
Hub: 100 mm - 720 mm

XYZ-Doppel-Inspektionsportal für Halbleiter Kundenspezifisch anpassbar • Ideal zur automatisierten Inspektion von Wafern / Halbleitern • Sehr großer Verfahrbereich von 2 x je 720 x 720 x 100 mm • Erlaubt die Integration von zwei ...

Wiederholbarkeit: 0,01 µm - 2,5 µm
Geschwindigkeit: 5 mm/s - 35 mm/s

... hohe Wiederholbarkeit der Ergebnisse mit bis zu 2.5 µm und feinste rotatorische Bewegungen bis 0.02° Dieses 9-achs-Positioniersystem ermöglicht es, Proben aus allen möglichen Winkeln unter Mikroskopen oder hochauflösenden ...

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 0,4 µm
Hub: 100 mm - 200 mm
Geschwindigkeit: 15 mm/s - 25 mm/s

XYZ Laboranalytik System flexibel konfigurierbar mit Rotation Kundenspezifisch anpassbar: • Ideal für den Auf- und Ausbau Ihrer hochpräzisen Analysetechnik • Extrem hohe Wiederholgenauigkeit bis 0.3 µm • Kleinste Schrittweiten und ...

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 0,7 µm
Hub: 200 mm
Geschwindigkeit: 15 mm/s - 25 mm/s

XYZ Mikroskopie- und Prüfstation Kundenspezifisch anpassbar: • Ideal zur Probeninspektion • Hochpräzise Wiederholgenauigkeit bis 0.3 µm • Reduktion von Messabweichungen auf unter 3 µm Dieses 3-Achs-Positioniersystem ...

Wiederholbarkeit: 0,8 µm - 4 µm
Ladung: 1 kg
Hub: 25 mm - 25 mm

MP63-3 Miniatur-XYZ-Positioniersystem, kartesisch Kundenspezifisch anpassbar: • sehr hohe Auflösungswerte • ideal für enge Bauräume • Belastbarkeit bis 10N • feineres Einjustieren bei Applikationen durch einen ...