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Räumliche Auflösung: 1 µm
... auszuwählen, die Sie benötigen, um das System an Ihre Anwendung anzupassen. Diese ergonomischen und benutzerfreundlichen Mikroskope tragen dazu bei, den Durchsatz zu erhöhen und den Inspektor bei seiner Arbeit komfortabel ...
Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie trägt zum ultimativen FE-SEM mit überragender Strahlhelligkeit und -stabilität ...
Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm
... Leistung und Power auf einer flexiblen Plattform Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/SU3900 von Hitachi High-Tech bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Der Bediener kann viele Vorgänge automatisieren und ihre hohe Leistung ...
Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,08, 0,1 nm
... Hitachis einzigartiges, aberrationskorrigiertes 200-kV-TEM/STEM: die perfekte Harmonie von Bildauflösung und analytischer Leistung 0.die räumliche Auflösung von 078 nm im STEM wird zusammen mit einer hohen Probenschwenkbarkeit und einem ...
Vergrößerung: 66 unit - 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 1,3 nm
Länge: 1.716 mm
... Hochgeschwindigkeits-Rasterelektronenmikroskop für die maßstabsübergreifende Abbildung großvolumiger Proben Das CIQTEK HEM6000 verfügt über Technologien wie die lichtstarke Großstrahl-Elektronenkanone, das Hochgeschwindigkeits-Elektronenstrahl-Ablenksystem, ...
Das neue „Machine Vision Microscope“ (MVM) ist ein rein digitales Mikroskop mit allen Eigenschaften, die ein Mikroskop ausmachen. Es verfügt über ein apochromatisch hochkorrigiertes Mikroskopobjektiv ...
... und POL für die Mehrfachanalyse ausgestattet. Inverses Mikroskop der Einstiegsklasse für allgemeine Anwendungen zur Härteprüfung. Inverses Mikroskop für Industrie und Materialwissenschaft, speziell entwickelt ...
Gewicht: 17 kg
Länge: 490 mm
Breite: 251 mm
... unter Verwendung einer ganzen Reihe von speziellem Zubehör. Ci-POL ermöglicht eine Reihe von Studien mit einem kompakten Mikroskop. Nikon ECLIPSE LV100N POL und Ci-POL Diese Geräte haben eine episkopische und diaskopische ...
Nikon Metrology
Vergrößerung: 10 unit - 5.480.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7 nm - 3 nm
... einheitlichen Arbeitsablauf und einem gemeinsamen Bericht zu vereinen. Mit der patentierten In-Lens Emitter-Technologie erreicht das Mikroskop selbst bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung und eignet ...
Das SAM 400 ist ein Ultraschall-Rastermikroskop, das für Qualitäts- und Prozesskontrolle, sowie Forschungs-anwendungen entwickelt wurde. Es weist eine neue wartungsfreie Hochgeschwindigkeits-Plattform und neue Hochfrequenz- und Transducer-Technologien ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... ZTX-S Serie Zoom-Mikroskop nimmt optische Bildgebung System, mit hoher Auflösung, feine Definition und starken Sinn für dreidimensionale, einfache Bedienung.Das Mikroskop ist weit verbreitet in der ...
... hochwertige Objektive mit großem Arbeitsabstand. • Ausgezeichnet geeignet als Einbaumikroskop in Untersuchungsstationen für Halbleiter. • Die L- und L4-Modelle sind für die Nutzung mit YAG-Lasern mit einer Wellenlänge ...
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