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Mikroskope für elektronische Bauteile
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ZEISS Xradia Context ist ein anwenderfreundliches 3D-Mikro-Computertomographie-System (microCT) für die Analyse aller Probenarten. Ein hochformatiger Detektor ermöglicht die hohe Auflösung feiner Details auch bei relativ großen Imaging-Volumen. ...

Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm
... preiswerten und dank intelligenter Steuerung langlebigen Wolfram-Haarnadelkathoden - Einfache Handhabung auch von nicht elektrisch leitfähigen Proben durch den integrierten effektiven Niedervakuum-Betriebsmodus, der ...

Vergrößerung: 10 unit - 140 unit
Gewicht: 120 g
Länge: 130 mm
... messorientierte Aufgaben konzipiert. Die Hauptmerkmale des AM8517MZTL sind: • 8 Megapixel • Hohe optische Auflösung • Automatische Vergrößerungsablesung (AMR) • Erweiterte Schärfentiefe (EDOF) • Erweiterter ...

Vergrößerung: 7 unit - 180 unit
... DSM0745 Serie Zoom-Mikroskop nimmt stromlinienförmige integrierte mechanische Design, einfache Bedienung, lange Arbeitsabstand, klar aufgelöstes Bild, Gehäuse integriert. Das Mikroskop wird weitgehend ...
Ningbo Huaguang Precision Instrument Co., Ltd.

... Zoom-Mikroskop nimmt optische Bildgebung System, mit hoher Auflösung, feine Definition und starken Sinn für dreidimensionale, einfache Bedienung.Das Mikroskop ist weit verbreitet in der Halbleiter-und ...
Ningbo Huaguang Precision Instrument Co., Ltd.

Vergrößerung: 2 unit - 73 unit
Gewicht: 5 kg
Mit dem dem neu entwickelten Digitalmikroskop HD-Inspektor II steht dem Anwender ein innovativer, leistungsstarker Inspektions- und Kontrollarbeitsplatz zur Verfügung. Das Herzstück des Inspektionssystems ist eine intelligente HD-Kamera ...
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