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Messsysteme für Wafer
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... Das VX1100 eignet sich für präzise Dimensionsmessungen in den Bereichen Maschinen, Elektronik, Formen, Spritzguss, Hardware, Gummi, elektrische Niederspannungsgeräte, magnetische Materialien, Präzisionsstanzen, Steckverbinder, Anschlüsse, ...
... Die mikroskopische Messmaschine MX3200 ermöglicht durch die Kombination von mikroskopischer Bildgebung und herkömmlicher Videomessung die Messung kleinster Merkmale in einem weiten Bereich. Ausgestattet mit einem motorisierten ...
... Größen entsprechend dem Programm automatisch messen und bewerten. Gleichzeitig ist ein Weißlicht-Interferometrie-Messsystem integriert, das die Wafer-Oberfläche scannen kann, um ein 3D-Profilbild der ...
RoboVib® - Struktur-Messstation für automatisierte experimentelle Modaltests Die RoboVib® Structural Test Station kombiniert das optische Präzisionsmessverfahren der 3D-Scanning Vibrometrie mit einem Industrieroboter. Damit stellt ...
... Automatisches Video-Messsystem der G-Serie Automatische Chargenmessung, freie Hände Die G-Serie ist ideal für eine Vielzahl von industriellen Inspektionsanwendungen, die sowohl optische als auch taktile Messungen erfordern. Merkmale ✦Hochpräzise ...
Guangdong Jinuosh Technology Co.,Ltd
... T-Serie FLASH MEASURING MACHINE Inspektion mit einem Tastendruck, große FOV-Messung 0.1 μm Auflösung/TELECENTRIC LENS Merkmale ✦Keine Positionierung des Teils erforderlich. gleichzeitige Messungen in Sekundenschnelle Messungen an bis ...
Guangdong Jinuosh Technology Co.,Ltd
... Spezifikation - XY-Achse Verfahrbereich: 430mmx330mm - Z-Achse Bewegungsbereich: 200mm - Kamera: 20MP Schwarz-Weiß - Auflösung: 0,1 μm - Max Anzahl der messbaren Positionen auf einmal: 500 - Max Anzahl der messbaren Teile auf einmal ...
Guangdong Jinuosh Technology Co.,Ltd
... Automatisierter Wafer Edge Profiler WATOM 200/300mm Waferkantenmessung - punktgenau und präzise Die Verwendung immer kleinerer Muster in der Halbleiterindustrie erfordert immer fortschrittlichere Materialien von extrem ...
... verschiedenen Automatisierungslösungen für moderne Halbleiterfertigungsprozesse kombiniert zu werden, unabhängig davon, ob einzelne Wafer manuell geladen werden oder ein automatisches Materialhandhabungssystem (AMHS) vorhanden ist. ...
... Einzel-Wafer-Kanten-Profiler WATOM T Kleine Grundfläche und gleichbleibende Genauigkeit WATOM T ist eine kompakte, kostengünstige Alternative für Anwendungen, die keine Automatisierung erfordern, und bietet die gleiche ...
... 3DGipsumB. Das System zur Messung der Abmessungen von Gipskartonplatten Schlüsselfertige Lösung auf der Basis von 2D-Laserscannern und Punkt-Triangulationssensoren zur kontinuierlichen berührungslosen Messung der geometrischen Parameter ...
... Das Gerät ist für die berührungslose Abtastung und Messung des Innendurchmessers von Rohren bestimmt. Gemessene Parameter: Innendurchmesser, Ovalität, Rundheit. Handmessgerät für den Innendurchmesser RF096-18/30-155/307-НН Messbereich ...
... XT-Option Zusätzliche Technologien erweitern die Wafer-Handhabungs- und Messmöglichkeiten des PWG5-Systems für strukturierte Wafergeometrie, um Wafer-to-Wafer-Bonding-Messungen für fortschrittliche ...
KLA Corporation
... hoher Geschwindigkeit und hoher Auflösung durchzuführen. Bahnbrechendes, multifunktionales, konfokales Video-Messsystem Dieses Messsystem verfügt über konfokale Technologie, Hellfeld-Bildgebung mit ...
Nikon Metrology
... Überlagerung Die Überlagerung ist ein Verfahren zur Angleichung der oberen Schicht an die untere Schicht. Der Überlagerungsfehler ist definiert als die Abweichung zwischen diesen beiden Schichten. Die Messung des Überlagerungsfehlers ...
TZTEK Technology Co.,ltd
... Prüfung von Mikrostrukturen auf Wafern. Der automatisierte Wafer-Handling- und Prüfprozess sorgt für eine sehr hohe Effizienz und ermöglicht eine fehlerfreie Handhabung und Vermessung der Wafer aufgrund ...
... herkömmliche magnetische Charakterisierung und kann auf die Proben detektion vor und nach der Struktur ierung angewendet werden. Wafer Moke kann ein vertikales Magnetfeld von bis zu 2,5 T/1,3 T in der Ebene bereitstellen, ...
Produktbeschreibungen Multi-sensor CNC Vision Measuring System ist hohe Feinmessunglösungen für große Teile. Mit Metrology Software, Programmable Zoomobjektiv, Servo Bewegungssteuerung, die Vision Maschinen-Maßteile beenden bis zu 2 ...
Leader Precision Instrument Co. Ltd
... Strukturen. Anwendungen: Höhenmessung im μm-Bereich (Schicht- und Strukturdicken, Kratzer) Messen von Flachteilen (Wafer und Masken) Inspektion und Messung von Mikro- und Makrostrukturen Materialuntersuchungen, ...
... Leckagen und niedrigen Kapazitäten erheblich. Ein neuer, fortschrittlicher 200-mm-Schnelltisch, eine Kassette für bis zu 50 Wafer, Testfunktionen mit hohem Durchsatz und ein breiter Temperaturbereich von -60 °C bis 300 ...
FORMFACTOR
... Dieses Gerät wird speziell für die Orientierungsmessung von Silizium-Einkristallstäben verwendet, es kann passend zu YX-5Z/6Z und Mehrlinienschneidegeräten verwendet werden. Seine größte Eigenschaft ist, dass es direkt den l-Ablenkwinkel, ...
... Das unabhängig entwickelte spektrale konfokale Messsystem wird bei den Rohstoffproduktionsunternehmen im vorgelagerten Bereich der Halbleiterindustriekette eingesetzt, um die Größe und Ebenheit von Halbleiter-Roh- und ...
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