Messsysteme für Wafer

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Kontur-Messsystem
Kontur-Messsystem
VX1100

... Das VX1100 eignet sich für präzise Dimensionsmessungen in den Bereichen Maschinen, Elektronik, Formen, Spritzguss, Hardware, Gummi, elektrische Niederspannungsgeräte, magnetische Materialien, Präzisionsstanzen, Steckverbinder, Anschlüsse, ...

Schichtdickenmesssystem
Schichtdickenmesssystem
MX3200

... Die mikroskopische Messmaschine MX3200 ermöglicht durch die Kombination von mikroskopischer Bildgebung und herkömmlicher Videomessung die Messung kleinster Merkmale in einem weiten Bereich. Ausgestattet mit einem motorisierten ...

Dickenmessmaschine
Dickenmessmaschine
BOKI_1000

... Größen entsprechend dem Programm automatisch messen und bewerten. Gleichzeitig ist ein Weißlicht-Interferometrie-Messsystem integriert, das die Wafer-Oberfläche scannen kann, um ein 3D-Profilbild der ...

Schwingungsmesssystem
Schwingungsmesssystem
RoboVib

RoboVib® - Struktur-Messstation für automatisierte experimentelle Modaltests Die RoboVib® Structural Test Station kombiniert das optische Präzisionsmessverfahren der 3D-Scanning Vibrometrie mit einem Industrieroboter. Damit stellt ...

Video-Messsystem
Video-Messsystem
G300

... Automatisches Video-Messsystem der G-Serie Automatische Chargenmessung, freie Hände Die G-Serie ist ideal für eine Vielzahl von industriellen Inspektionsanwendungen, die sowohl optische als auch taktile Messungen erfordern. Merkmale ✦Hochpräzise ...

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Guangdong Jinuosh Technology Co.,Ltd
Flash-Messmaschine
Flash-Messmaschine
T200

... T-Serie FLASH MEASURING MACHINE Inspektion mit einem Tastendruck, große FOV-Messung 0.1 μm Auflösung/TELECENTRIC LENS Merkmale ✦Keine Positionierung des Teils erforderlich. gleichzeitige Messungen in Sekundenschnelle Messungen an bis ...

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Guangdong Jinuosh Technology Co.,Ltd
Flash-Messmaschine
Flash-Messmaschine
FMV500

... Spezifikation - XY-Achse Verfahrbereich: 430mmx330mm - Z-Achse Bewegungsbereich: 200mm - Kamera: 20MP Schwarz-Weiß - Auflösung: 0,1 μm - Max Anzahl der messbaren Positionen auf einmal: 500 - Max Anzahl der messbaren Teile auf einmal ...

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Guangdong Jinuosh Technology Co.,Ltd
Waferkanten-Messsystem
Waferkanten-Messsystem
WATOM 200/300mm

... Automatisierter Wafer Edge Profiler WATOM 200/300mm Waferkantenmessung - punktgenau und präzise Die Verwendung immer kleinerer Muster in der Halbleiterindustrie erfordert immer fortschrittlichere Materialien von extrem ...

Waferkanten-Messsystem
Waferkanten-Messsystem
WATOM 150/200mm

... verschiedenen Automatisierungslösungen für moderne Halbleiterfertigungsprozesse kombiniert zu werden, unabhängig davon, ob einzelne Wafer manuell geladen werden oder ein automatisches Materialhandhabungssystem (AMHS) vorhanden ist. ...

Waferkanten-Messsystem
Waferkanten-Messsystem
WATOM T

... Einzel-Wafer-Kanten-Profiler WATOM T Kleine Grundfläche und gleichbleibende Genauigkeit WATOM T ist eine kompakte, kostengünstige Alternative für Anwendungen, die keine Automatisierung erfordern, und bietet die gleiche ...

Messsystem für Gipskartonplatten
Messsystem für Gipskartonplatten
3DGipsumB

... 3DGipsumB. Das System zur Messung der Abmessungen von Gipskartonplatten Schlüsselfertige Lösung auf der Basis von 2D-Laserscannern und Punkt-Triangulationssensoren zur kontinuierlichen berührungslosen Messung der geometrischen Parameter ...

Durchmesser-Messsystem
Durchmesser-Messsystem
RF096-18/30-155/307-НН

... Das Gerät ist für die berührungslose Abtastung und Messung des Innendurchmessers von Rohren bestimmt. Gemessene Parameter: Innendurchmesser, Ovalität, Rundheit. Handmessgerät für den Innendurchmesser RF096-18/30-155/307-НН Messbereich ...

Dickenmesssystem
Dickenmesssystem
PWG™

... XT-Option Zusätzliche Technologien erweitern die Wafer-Handhabungs- und Messmöglichkeiten des PWG5-Systems für strukturierte Wafergeometrie, um Wafer-to-Wafer-Bonding-Messungen für fortschrittliche ...

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KLA Corporation
Video-Messsystem
Video-Messsystem
VMZ-K3040 series

... hoher Geschwindigkeit und hoher Auflösung durchzuführen. Bahnbrechendes, multifunktionales, konfokales Video-Messsystem Dieses Messsystem verfügt über konfokale Technologie, Hellfeld-Bildgebung mit ...

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Nikon Metrology
Messsystem / kritische Dimension
Messsystem / kritische Dimension
DaVinci

... Überlagerung Die Überlagerung ist ein Verfahren zur Angleichung der oberen Schicht an die untere Schicht. Der Überlagerungsfehler ist definiert als die Abweichung zwischen diesen beiden Schichten. Die Messung des Überlagerungsfehlers ...

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TZTEK Technology Co.,ltd
Messsystem für Wafer
Messsystem für Wafer
XDV®-µ SEMI

... Prüfung von Mikrostrukturen auf Wafern. Der automatisierte Wafer-Handling- und Prüfprozess sorgt für eine sehr hohe Effizienz und ermöglicht eine fehlerfreie Handhabung und Vermessung der Wafer aufgrund ...

Messsystem für Wafer
Messsystem für Wafer

... herkömmliche magnetische Charakterisierung und kann auf die Proben detektion vor und nach der Struktur ierung angewendet werden. Wafer Moke kann ein vertikales Magnetfeld von bis zu 2,5 T/1,3 T in der Ebene bereitstellen, ...

Koordinatenmessmaschine
Koordinatenmessmaschine
INSIGHT 800

Produktbeschreibungen Multi-sensor CNC Vision Measuring System ist hohe Feinmessunglösungen für große Teile. Mit Metrology Software, Programmable Zoomobjektiv, Servo Bewegungssteuerung, die Vision Maschinen-Maßteile beenden bis zu 2 ...

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Leader Precision Instrument Co. Ltd
Dickenmesssystem
Dickenmesssystem
MT-100 + Zoom70

... Strukturen. Anwendungen: Höhenmessung im μm-Bereich (Schicht- und Strukturdicken, Kratzer) Messen von Flachteilen (Wafer und Masken) Inspektion und Messung von Mikro- und Makrostrukturen Materialuntersuchungen, ...

vollautomatisches Messsystem
vollautomatisches Messsystem
SUMMIT200

... Leckagen und niedrigen Kapazitäten erheblich. Ein neuer, fortschrittlicher 200-mm-Schnelltisch, eine Kassette für bis zu 50 Wafer, Testfunktionen mit hohem Durchsatz und ein breiter Temperaturbereich von -60 °C bis 300 ...

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FORMFACTOR
Messsystem zur Orientierung
Messsystem zur Orientierung
YX-6D/6DA

... Dieses Gerät wird speziell für die Orientierungsmessung von Silizium-Einkristallstäben verwendet, es kann passend zu YX-5Z/6Z und Mehrlinienschneidegeräten verwendet werden. Seine größte Eigenschaft ist, dass es direkt den l-Ablenkwinkel, ...

Dickenmesssystem
Dickenmesssystem

... Das unabhängig entwickelte spektrale konfokale Messsystem wird bei den Rohstoffproduktionsunternehmen im vorgelagerten Bereich der Halbleiterindustriekette eingesetzt, um die Größe und Ebenheit von Halbleiter-Roh- und ...

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