In-Situ-Mikroskope

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Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SU7000

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm

... Das SU7000 ist ideal für große oder schwere Proben und für die Integration einer breiten Palette von Zubehör. Zu diesem Zubehör gehören analytische Detektoren oder Tischaufsätze für die In-situ-Probenmanipulation (Dehnung [Zug] / Kompression, ...

STEM-Mikroskop
STEM-Mikroskop
HF5000

Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,08, 0,1 nm

... Das HF5000 ist ein Cs-korrigiertes S/TEM, das für In-situ-Experimente angepasst werden kann. Die Besonderheit ist der Everhart Thornley SE-Detektor, der die Oberfläche der Probe bei 60-200kV abbildet, genau wie bei einem SEM. Dies ist ...

Transmissionselektronmikroskop
Transmissionselektronmikroskop
HT7800 Series

Vergrößerung: 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,2, 0,14, 0,19 nm

... Die HT7800-Familie unterstützt eine Vielzahl von Anwendungen, von Biowissenschaften bis hin zu Materialwissenschaften. Es ist in drei verschiedenen Polschuh-Varianten erhältlich, die alle auf unserer patentierten Objektivlinse basieren ...

Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
Quattro ESEM

Räumliche Auflösung: 1,3, 1, 0,8, 3 nm

... Umwelt-Rasterelektronenmikroskop (ESEM) für die Untersuchung von Materialien in ihrem natürlichen Zustand. Quattro Umweltscanning-Elektronenmikroskop Das Thermo Scientific Quattro ESEM kombiniert eine umfassende Leistung in der Bildgebung ...

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SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
Volumescope 2

Räumliche Auflösung: 1, 0,8, 0,7 nm
Breite: 340 mm

... 3D-SEM für großvolumige Proben mit seriellem Block-Face-Imaging und Multi-Energie-Dekonvolution. Volumescope 2 Rasterelektronenmikroskop für serielles Block-Face-Imaging Das Thermo Scientific Volumescope 2 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
FIB/SEM-Mikroskop
FIB/SEM-Mikroskop
Helios 5

Räumliche Auflösung: 515, 1.030 nm

... Fokussiertes Ionenstrahlfräsen und Femtosekundenlaserablation Die Helios 5 PFIB-Lasersysteme von Thermo Scientific kombinieren das Fräsen mit fokussierten Ionenstrahlen mit Femtosekunden-Laserablation und REM-Abbildung (Rasterelektronenmikroskopie). ...

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Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
SEM3200

Vergrößerung: 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 3, 4, 7 nm
Gewicht: 480 kg

CIQTEK SEM3200 ist ein Hochleistungs-Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop. Es verfügt sowohl im Hoch- als auch im Niedrigvakuummodus über eine hervorragende Bildqualität. Es verfügt außerdem über eine große Tiefenschärfe und eine ...

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CIQTEK Co., Ltd.
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
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SEM5000Pro

Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8 nm - 1,3 nm
Gewicht: 950 kg

... CIQTEK SEM5000Pro ist ein hochauflösendes, funktionsreiches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM, FEG SEM). Erweiterte Spalte Design, Hochspannungs-Tunnel-Technologie (SuperTunnel), niedrige Aberration nicht Leckage magnetische ...

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Rasterelektronenmikroskop
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SEM2100

Vergrößerung: 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 4,5, 3,9 nm

... Das SEM2100 ist ein benutzerfreundliches und leicht zugängliches Wolfram-Filament-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das auch für Einsteiger geeignet ist. Es zeichnet sich durch einen vereinfachten Bedienprozess aus und hält sich bei der ...

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CIQTEK Co., Ltd.
digitales Mikroskop
digitales Mikroskop
IM•profile M

Räumliche Auflösung: 200 nm
Gewicht: 1 kg

Das neue Imaging-Modul-Profil mit 20x 5MP ist jetzt auch mit einem einzigartig kompakten X-Y-Z-Phi-Tisch zur einfachen Positionierung der Life Science - Medical-Probe erhältlich. Es ist ein ultrakompaktes inverses USB/GigE-Digitalmikroskop ...

Mikroskop für die Metallurgie
Mikroskop für die Metallurgie
MOBISCOPE

Vergrößerung: 100 unit - 500 unit
Länge: 160 mm

Grundvergrößerung: 100x - 500x Okulare: WF10X/FN18, Durchm. 23.2 Objektive : 10x/0.25 (W.D. 7,3 mm), 50x/0.65 (W.D. 0.5mm) C-Mount-Adapter (zum Anschluss von C-Mount-Kameras) Mechanische Rohrlänge 160 mm Koaxiales Grob- / Feinfokussiersystem, ...

Rastersondenmikroskop
Rastersondenmikroskop
TESLA JT SPM

... > 5 Tage ununterbrochene Messzeit bei wechselnden Magnetfeldern mit nur 11 L L LHe Temperaturen bis zu 1 K mit 4He Extrem geringe thermische Drift Magnetische Felder BZ > 3 T Optischer Zugang STM und QPlus® AFM Ergonomisches Design & ...

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Scienta Omicron
Raman-Mikroskop
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RamMics M532/785

Räumliche Auflösung: 532, 785 nm

... Präzise auf die Anforderungen des Kunden zugeschnitten Einfach zu bedienen Schnelle und verlässliche Ergebnisse Kostengünstiges voll funktionsfähiges Raman-System Kostengünstiges System Das Raman-Mikroskop 532/785® ist ein optisches ...

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