Ellipsometer

AutoSE ist ein Messsystem mit umfangreicher Ausstattung. Dazu gehören ein automatischer X,Y,Z-Messtisch, Echtzeitbildgebung der Messstelle und die automatische Auswahl der Messspotgröße. Das umfangreiche Angebot an Zubehör ermöglicht ...

Spektroskopisches Ellipsometer mit höchster Präzision für Forschung und Entwicklung Die Ellipsometer der UVISEL-Familie ermöglichen dank der einzigartigen Kombination aus modularem Aufbau und Leistungsfähigkeit ...

Das UVISEL 2 VUV, die neue Generation von phasenmodulierten spektroskopischen Ellipsometern, wurde für Messungen im VUV-Bereich konzipiert. Es ist das einzige System seiner Art, das eine extrem schnelle Analyse von Proben im Spektralbereich ...

HORIBA Scientific’s in-situ, in-line und Ellipsometer für großflächige Anwendungen sind für die Prozesskontrolle in der Industrie und Forschung konzipiert. Egal ob in-situ Schichtdicken, große Flächen auf Homogenität ...

... verfügt über mehrere hundert Materialmodelle. Der Ellipsometer PHE-102 enthält die gesamte Hard- und Software, die zur Erfassung und Analyse aller Probendaten benötigt wird. Darüber hinaus ist die Ellipsometer-Software ...

... Ellipsometertechnologie erfasst ein komplettes Spektrum schneller. Fortschrittliche Ellipsometer-Technologie Das M-2000 nutzt unsere patentierte RCE-Technologie (Rotating Compensator Ellipsometer), um ...

... spektroskopischen Ellipsometrie. Fortgeschrittene Messfähigkeiten Das RC2 ist das erste kommerzielle spektroskopische Ellipsometer, das alle 16 Elemente der Mueller-Matrix erfasst. Die Mueller-Matrix SE ermöglicht die ...

... Das iSE ist ein neues spektroskopisches In-situ-Ellipsometer, das für die Echtzeitüberwachung von Dünnschichtprozessen entwickelt wurde. Mit unserer bewährten Technologie ermöglicht das iSE die Optimierung der optischen ...

... Das theta-SE ist ein spektroskopisches Ellipsometer auf Knopfdruck zur Charakterisierung der Gleichmäßigkeit dünner Schichten. Es bietet fortschrittliche Ellipsometrie-Instrumente in einem kompakten Paket zu einem erschwinglichen ...

... Für Routinemessungen der Dicke und des Brechungsindex von dünnen Schichten können Sie mit diesem Ellipsometer eine Probe einlegen, das für Ihre Schicht geeignete Modell auswählen und auf "Messen" drücken. Sie erhalten ...

... Das VASE® ist ein genaues und vielseitiges Ellipsometer für die Forschung an allen Arten von Materialien: Halbleiter, Dielektrika, Polymere, Metalle, Mehrfachschichten und mehr. Es verbindet hohe Genauigkeit und Präzision ...

... Das IR-VASE® ist das erste und einzige spektroskopische Ellipsometer, das die chemische Empfindlichkeit der FTIR-Spektroskopie mit der Dünnschicht-Empfindlichkeit der spektroskopischen Ellipsometrie kombiniert. Das IR-VASE ...

... Das spektroskopische Ellipsometer VUV-VASE® mit variablem Winkel ist der Goldstandard für die optische Charakterisierung von Lithografie-Dünnschichten. Es misst Wellenlängen vom Vakuum-Ultraviolett (VUV) bis zum nahen ...

... Die UNECS-Serie ist eine Art spektroskopischer Ellipsometer, um den Brechungsindex und die Dicke der Dünnschicht schnell und präzise zu messen. Es verwendet eine einzigartige Messmethode und realisiert die kompakte Größe ...