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Vergrößerung: 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 2, 10, 3 nm
... Tisch-Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskanone für hochwertige Aufnahmen in verschiedenen Disziplinen. Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskanone Das Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM bringt das Feldemissions-SEM ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 0,3 nm - 1,5 nm
Gewicht: 500 g
... Probenvorbereitung für TEM- und STEM-Bildgebung oder Atomsondentomographie. Einfache Bedienung mit fortschrittlicher Automatisierung. Geeignet für hochwertige 3D-Charakterisierung des Untergrunds. FIB-Probenvorbereitung Das neue Thermo ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 10.000 nm
... Desktop SEM ermöglicht eine qualitativ hochwertige Stahlherstellung durch Fehleranalyse und Prozessverbesserung. Metallurgen und Forscher in der Stahlherstellung benötigen Daten aus der Rasterelektronenmikroskopie (REM) und der energiedispersiven ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 0,7, 1,2 nm
ZEISS GeminiSEM steht für müheloses Imaging mit Auflösungen im Subnanometerbereich. Diese FE-SEMS (Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope) verbinden Kompetenz in Imaging und Analytik. Dank der Innovationen in der Elektronenoptik und ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Die Systeme der EVO-Produktfamilie kombinieren leistungsstarke Rasterelektronenmikroskopie mit einem intuitiven Bedienkonzept, das für erfahrene und neue Anwender gleichermaßen gut geeignet ist. EVO kann dank seiner umfangreichen Optionen ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Kombinieren Sie erstklassige FE-SEM-Leistung mit FIB-Bearbeitung: ZEISS Crossbeam verbindet die Imaging- und Analyseleistung eines hochauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FE-SEM) mit den Bearbeitungsfunktionen eines ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie trägt zum ultimativen FE-SEM mit überragender Strahlhelligkeit und -stabilität ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm
... Das SU8700 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm
... Das SU8600 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Kaltfeld-Emissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre CFE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, Automatisierung, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... DIGITALES MIKROSKOP FÜR AUTOMATISCHE BRINELLMESSUNGEN ISO 6506 - ASTM E10 Elektronisches Mikroskop für die automatische Messung von Brinell-Eindrücken mit einer Kugel von Ø 2,5 oder 5 oder 10 mm -benutzerfreundlich und kompakt -Auto-Lichteinstellung -Genauigkeit ...
Vergrößerung: 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 3, 4, 7 nm
Gewicht: 480 kg
CIQTEK SEM3200 ist ein Hochleistungs-Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop. Es verfügt sowohl im Hoch- als auch im Niedrigvakuummodus über eine hervorragende Bildqualität. Es verfügt außerdem über eine große Tiefenschärfe und eine ...
CIQTEK Co., Ltd.
Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8 nm - 1.200 nm
Gewicht: 950 kg
... CIQTEK SEM5000Pro ist ein hochauflösendes, funktionsreiches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM, FEG SEM). Erweiterte Spalte Design, Hochspannungs-Tunnel-Technologie (SuperTunnel), niedrige Aberration nicht Leckage magnetische ...
CIQTEK Co., Ltd.
Vergrößerung: 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9 nm - 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 ist ein analytisches thermisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, das mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit ausgestattet ist. Das dreistufige magnetische Linsendesign ...
CIQTEK Co., Ltd.
Das hoch-automatisierte Elektronenmikroskop CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) steht für noch schnellere, noch einfachere und noch höher auflösende Kryo-Elektronenmikroskopie. Die automatisierte Einzelpartikelanalyse (engl. ...
Jeol
Vergrößerung: 50 unit
Gewicht: 45 kg
Nikons ECLIPSE L300ND, L300N und L200ND, L200NA sind Halbleitermikroskope, die sich ideal für die Inspektion von integrierten Schaltkreisen (IC), Flachbildschirmen (FPD), elektronischen Bauteilen mit hoher Integrationsdichte (LSI) und ...
Räumliche Auflösung: 20 nm
... Oberflächensensitive Mikroskopie 20 nm Laterale Auflösung Lokale Spektroskopie k-Space-Bildgebung Einfach zu bedienen Kompatibel mit MULTIPROBE UHV-Systemen Ein FOCUS-Produkt Die Photoemissions-Elektronenmikroskopie (PEEM) ist eine extrem ...
Vergrößerung: 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 3 nm
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