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Elektronenmikroskope
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Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... Das SU9000 II ist eine Kombination aus oberflächenabbildendem SEM und strukturauflösendem Rastertransmissionsmikroskop (STEM), die für eine extreme Auflösung optimiert ist. Ermöglicht wird dies durch die einzigartige Elektronenoptik des ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,6 nm
... Das SU8700 ist standardmäßig mit einer 150-mm-Probenschleuse ausgestattet und bietet einen hohen Probendurchsatz auch für größere Proben und eine konstant saubere Probenkammerumgebung für kontaminationsarme, hochauflösende Bildgebung. ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm
... Das SU8600 ist das Nachfolgemodell der bewährten Regulus-Feldemissions-SEM-Familie und erfüllt höchste Anforderungen für abbildungsorientierte Anwendungen. Der Kaltfeldstrahler mit seiner nahezu monochromatischen Emission in Kombination ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH


Feldemissions-Rasterelektronen-MikroskopZEISS GeminiSEM
Räumliche Auflösung: 0,7, 1,2 nm
ZEISS GeminiSEM steht für müheloses Imaging mit Auflösungen im Subnanometerbereich. Diese FE-SEMS (Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope) verbinden Kompetenz in Imaging und Analytik. Dank der Innovationen in der Elektronenoptik und ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle

Die Systeme der EVO-Produktfamilie kombinieren leistungsstarke Rasterelektronenmikroskopie mit einem intuitiven Bedienkonzept, das für erfahrene und neue Anwender gleichermaßen gut geeignet ist. EVO kann dank seiner umfangreichen Optionen ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle

Kombinieren Sie erstklassige FE-SEM-Leistung mit FIB-Bearbeitung: ZEISS Crossbeam verbindet die Imaging- und Analyseleistung eines hochauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FE-SEM) mit den Bearbeitungsfunktionen eines ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle

Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 10.000 nm
... Desktop SEM ermöglicht eine qualitativ hochwertige Stahlherstellung durch Fehleranalyse und Prozessverbesserung. Metallurgen und Forscher in der Stahlherstellung benötigen Daten aus der Rasterelektronenmikroskopie (REM) und der energiedispersiven ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

Vergrößerung: 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 2, 10, 3 nm
... Tisch-Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskanone für hochwertige Aufnahmen in verschiedenen Disziplinen. Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskanone Das Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM bringt das Feldemissions-SEM ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

Räumliche Auflösung: 0,7, 1, 0,6 nm
... Charakterisierung von Nanomaterialien mit Sub-Nanometer-Auflösung und hohem Materialkontrast. Verios 5 XHR Raster-Elektronenmikroskop Das Verios 5 XHR SEM bietet eine Subnanometerauflösung über den gesamten Energiebereich ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

... DIGITALES MIKROSKOP FÜR AUTOMATISCHE BRINELLMESSUNGEN ISO 6506 - ASTM E10 Elektronisches Mikroskop für die automatische Messung von Brinell-Eindrücken mit einer Kugel von Ø 2,5 oder 5 oder 10 mm -benutzerfreundlich und kompakt -Auto-Lichteinstellung -Genauigkeit ...

Vergrößerung: 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 7, 3 nm
Gewicht: 480 kg
CIQTEK SEM3200 ist ein Hochleistungs-Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop. Es verfügt sowohl im Hoch- als auch im Niedrigvakuummodus über eine hervorragende Bildqualität. Es verfügt außerdem über eine große Tiefenschärfe und eine ...
CIQTEK Co., Ltd.

Vergrößerung: 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9 nm - 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 ist ein analytisches thermisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, das mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit ausgestattet ist. Das dreistufige magnetische Linsendesign ...
CIQTEK Co., Ltd.

Vergrößerung: 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 4,5, 3,9 nm
... CIQTEK SEM2100 SEM-Mikroskop Spezifikationen Elektronen-Optik Auflösung: 3.9 nm @ 20 kV, SE 4.5 nm bei 20 kV, BSE Beschleunigungsspannung: 0,5 kV ~ 30 kV Vergrößerung (Polaroid): 1 x ~ 300.000 x Probenkammer Kamera: ...
CIQTEK Co., Ltd.

Das hoch-automatisierte Elektronenmikroskop CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) steht für noch schnellere, noch einfachere und noch höher auflösende Kryo-Elektronenmikroskopie. Die automatisierte Einzelpartikelanalyse (engl. ...
Jeol

Räumliche Auflösung: 20 nm
... Oberflächensensitive Mikroskopie 20 nm Laterale Auflösung Lokale Spektroskopie k-Space-Bildgebung Einfach zu bedienen Kompatibel mit MULTIPROBE UHV-Systemen Ein FOCUS-Produkt Die Photoemissions-Elektronenmikroskopie (PEEM) ist eine extrem ...



Vergrößerung: 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 3 nm
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