Dickenmessgeräte mit spektraler Reflexionsanalyse

Messbereich: 2 mm
Messgenauigkeit: 4 µm
Messbreite: 200 mm - 400 mm

Die thicknessGAUGE C.C Sensorsysteme nutzen konfokal-chromatische Wegsensoren zur Dickenmessung. Diese Sensoren erlauben die Messung mit enormer Genauigkeit und hoher Messrate. Das innovative Messverfahren ermöglicht darüber hinaus die ...

Messbereich: 10 nm - 50.000 nm
Umgebungstemperatur: 18 °C - 45 °C

... Das kompakte Schichtdickenmessgerät ist ein reflexionsspektralphotometrisches Schichtdickenmessgerät, das eine kleine Reflexionssonde verwendet und in allen Situationen vom Labor bis zur Inline-100%-Kontrolle im Produktionsprozess eingesetzt ...

Messbereich: 300 mm

... Die Wafer-Mapping-Einheit ist in der Lage, die Schichtdicke auf der gesamten Oberfläche von Wafern bis zu 300 mm automatisch zu messen. Die automatische Ausrichtungsfunktion, die Selbstkalibrierungsfunktion und der Waferchuck mit hoher ...

Messbereich: 11, 34, 13 mm

... Der bildgebende Schichtdickenmonitor ist ein Messinstrument, das die Schichtdickenverteilung einer transparenten Mehrschichtfolie sichtbar machen kann. Mit Hilfe der spektroskopischen Reflektometrie kann die Schichtdickenverteilung mit ...

Messbereich: 950 nm - 1.650 nm

... Infrarot-Blechdickenmessgeräte messen die Dicke von durchscheinenden Blechen wie Batterieseparatoren, schwach reflektierenden Beschichtungen wie Schwarzlack und Silizium. Das Infrarot-Absorptionssystem besteht aus einer kompakten Spiegelsonde ...